菲希尔 X 射线测厚仪 XDAL237 应用信息 |
点击次数:110 更新时间:2025-06-12 |
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菲希尔 X 射线测厚仪 XDAL237 是一款在材料分析和镀层测厚领域应用广泛的能量色散型仪器,凭借其的性能,在诸多行业中发挥着关键作用。
该测厚仪配备了可编程运行的 XY 轴工作台以及 Z 轴升降系统,这种设计使其在自动化测量方面表现出色。无论是进行超薄镀层厚度的无损测量,还是对材料成分进行分析,XDAL237 都能精准完成任务。例如在珠宝制造行业,对于黄金饰品表面镀层厚度的检测,要求精度高,XDAL237 能够凭借其高精度的测量系统,给出准确的测量数据,帮助企业确保产品质量。
XDAL237 是一款界面友好的台式测量仪器。高精度且可编程运行的工作台,配合电调的 Z 轴升降系统,为自动测量提供了坚实保障。同时,它还装备了高分辨率的彩色视频摄像头,该摄像头具备强大的放大功能,可对测量位置进行精确定位。在电子元器件的镀层厚度测量中,微小的测量部位需要精确的定位,彩色视频摄像头就能够清晰地捕捉到测量点,确保测量的准确性。
在实际应用中,XDAL237 展现出了强大的适应性。在电子工业和半导体工业中,它可用于测量功能性涂层,确保产品的性能稳定。在质量控制环节,通过自动化测量,能够快速对大量产品进行检测,提高生产效率,及时发现产品质量问题。
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