马尔粗糙度轮廓仪M400技术参数信息 |
点击次数:77 更新时间:2025-06-24 |
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轮廓参数体系 R 类参数(粗糙度):Ra(算术平均粗糙度)、Rq(均方根粗糙度)、Rz(十点高度)、Rmax(最大高度)等,覆盖 DIN/ISO 标准核心指标。 W 类参数(波纹度):Wa(波纹度算术平均)、Wq(波纹度均方根)、Wt(波纹度最大高度),适用于中长波表面缺陷分析。 P 类参数(原始轮廓):Pa(原始轮廓算术平均)、Pt(原始轮廓最大高度),用于未滤波的原始数据评估。 MOTIF 参数:支持 R、AR、Rx 等形貌参数,适配功能性表面(如轴承滚道、密封面)的工程应用需求。
国际标准支持 标准体系 | 覆盖参数示例 | 应用场景 |
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DIN/ISO | Ra、Rk、Rmr(3x)、HSC | 欧洲制造业质量控制 | JIS | RzJIS94、Sm、S | 日本汽车零部件、精密仪器 | ASME | RpA、Rpm | 北美航空航天、机械加工 | MOTIF | Wte、CR、CF、CL | 表面功能特性分析 |
测头系统核心参数 测量范围与分辨率
截止波长与扫描长度 评价长度与分段
SD 26 驱动单元
工作条件 便携性与接口
存储能力 内置存储器可保存约 30 个完整轮廓图形(含三维曲线)和 40,000 组参数结果,满足批量检测记录需求(如汽车零部件抽检批次数据追溯)。 加密锁定:防止非授权人员修改测量参数或删除数据,符合 ISO 质量体系对检测设备的权限管理要求。
集成功能
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